El Centro Español de Metrología (CEM), Organismo de la Administración del Estado responsable del desarrollo y mantenimiento de los patrones nacionales de medida, tiene entre sus misiones la transferencia y difusión de conocimientos en materia de metrología y para ello utiliza diferentes herramientas y medios, y organiza eventos de difusión e información. El más importante sin duda es el Congreso Español de Metrología, que se celebra cada 4 años, donde se reúnen expertos del mundo académico, industrial, Administraciones Públicas y, en general, usuarios e interesados en la ciencia de la medida. Además, en el periodo entre Congresos, anualmente, se celebran seminarios divulgativos centrados en distintas ramas de la metrología, en los que se abordan temas de interés y estratégicos.

Este año 2011, la temática del seminario inter-congresos estará dedicada a las mediciones en el campo de la nanotecnología. Como es conocido, la determinación cuantitativa de las propiedades de las micro y nanoestructuras es esencial para el desarrollo de la I+D y es un requisito para el control y aseguramiento de la calidad de los procesos industriales. Para obtener mediciones cuantitativas es esencial disponer de instrumentos de medida exactos y con trazabilidad al SI, junto a técnicas y procedimientos de medida validados y ampliamente aceptados que aporten robustez y credibilidad a los resultados obtenidos.

Por medio de este correo tengo el placer de adjuntarte el programa que hemos confeccionado con la ayuda y cooperación de destacados científicos y que confiamos pueda ser de tu interés.